2017年4月20日(木)13時50分~16時40分
「AI/IoT時代のテスト環境革命 - 全てが高速自動化する時代の革新的なテスト環境」

 7年連続で実施している政府の主な情報システム調達の分析・評価(延べ3500システム)と、
      IT可視化ベンチマークサービス「SLR」の延べ1500超システム評価を踏まえて、AI / IoT時代に
      おいて企業が目指すべき方向性を示唆します。 

      ・会場 : 東京ガーデンテラス紀尾井町(旧赤坂プリンスホテル)
             紀尾井カンファレンスセミナールームA+B
              ※セミナーパンフレット(PDF)にアクセスを記載しています。
      ・受講料 : 無料
      ・主催: 株式会社スクウェイブ
      ・協賛: アクティフィオジャパン株式会社、 Panaya Japan株式会社
      ・セミナーパンフレット(PDF)
      ・セミナー申込書(PDF)

    ***おかげさまで盛況のうちに終了いたしました***

【プログラム】

◆13:50~14:30 基調講演
「官・民5000システムの分析結果が示唆するITの未来」
~国内最大のITベンチマークデータの分析から判明したコスト削減に直結するテーマ~ 
株式会社スクウェイブ 代表取締役社長 黒須 豊

◆14:30~14:40  休憩

◆14:40~15:40  ソリューション・セッション
   (S1)14:40~15:10
    データベースを瞬時に複製、テスト環境構築の手間を大幅に削減
    アクティフィオ ジャパン株式会社 CTO 高峰 康氏

   (S2)15:10~15:40
    ソフトウェアテストのコスト半減を達成した次世代テストツール
    Panaya Test Centerのご紹介
    Panaya Japan株式会社 山岡 英明氏

◆15:40~15:50  休憩

◆15:50~16:40  パネル・ディスカッション
(仮題)激変する環境に即応するテスト環境~具体的なコスト削減メリット~
 【パネラー】
  ・アクティフィオ ジャパン株式会社 CTO 高峰 康氏
  ・Panaya Japan株式会社 山岡 英明氏
  ・運用現場代表者 元NEC情報システムズ執行役員 渡部 三千雄氏
 【モデレーター】
  ・株式会社スクウェイブ 代表取締役社長 黒須 豊

◆16:40  セミナー終了 

◆17:00~ 懇親会@東京ガーデンテラス紀尾井町4F 「NoMad」
    ※軽食等をご用意しております。奮ってご参加ください。

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