2017年4月20日（木）13時50分～16時40分
「AI/IoT時代のテスト環境革命 - 全てが高速自動化する時代の革新的なテスト環境」
7年連続で実施している政府の主な情報システム調達の分析・評価（延べ3500システム）と、
IT可視化ベンチマークサービス「SLR」の延べ1500超システム評価を踏まえて、AI / IoT時代に
おいて企業が目指すべき方向性を示唆します。
・会場 ： 東京ガーデンテラス紀尾井町（旧赤坂プリンスホテル）
紀尾井カンファレンスセミナールームA+B
※セミナーパンフレット（PDF）にアクセスを記載しています。
・受講料 ： 無料
・主催： 株式会社スクウェイブ
・協賛： アクティフィオジャパン株式会社、 Panaya Japan株式会社
・セミナーパンフレット（PDF）
・セミナー申込書（PDF）
***おかげさまで盛況のうちに終了いたしました***
【プログラム】
◆13:50～14:30 基調講演
「官・民5000システムの分析結果が示唆するITの未来」
～国内最大のITベンチマークデータの分析から判明したコスト削減に直結するテーマ～
株式会社スクウェイブ 代表取締役社長 黒須 豊
◆14：30～14：40 休憩
◆14：40～15：40 ソリューション・セッション
（S1）14：40～15：10
データベースを瞬時に複製、テスト環境構築の手間を大幅に削減
アクティフィオ ジャパン株式会社 CTO 高峰 康氏
(S2）15：10～15：40
ソフトウェアテストのコスト半減を達成した次世代テストツール
Panaya Test Centerのご紹介
Panaya Japan株式会社 山岡 英明氏
◆15：40～15：50 休憩
◆15：50～16：40 パネル・ディスカッション
（仮題）激変する環境に即応するテスト環境～具体的なコスト削減メリット～
【パネラー】
・アクティフィオ ジャパン株式会社 CTO 高峰 康氏
・Panaya Japan株式会社 山岡 英明氏
・運用現場代表者 元NEC情報システムズ執行役員 渡部 三千雄氏
【モデレーター】
・株式会社スクウェイブ 代表取締役社長 黒須 豊
◆16：40 セミナー終了
◆17：00～ 懇親会＠東京ガーデンテラス紀尾井町4F 「NoMad」
※軽食等をご用意しております。奮ってご参加ください。
